February 24th 2009
Horiba Jobin Yvon - Auto SE krijgt Award

De Auto SE van Horiba Jobin Yvon krijgt IC Industry New System Award 2008
De Auto SE van HORIBA Jobin Yvon heeft recent de IC Industry New System Award 2008 gekregen. De Auto SE is het nieuwste optisch metrologie instrument voor het meten aan dunne lagen.
De IC Industry Awards is een erkend platform dat de semiconductor industrie de gelegenheid geeft om producten en toepassingen voor de industrie te beoordelen. Het juryrapport vermeldde: Wij zijn van mening dat de Auto SE een belangrijk keerpunt voor Spectroscopische Ellipsometrie is omdat er zeer snel en eenvoudig nauwkeurige kwaliteitscontrole van dunne films kan worden uitgevoerd.
Het meten aan dunne lagen wordt met de Auto SE niets meer dan een druk op de knop. De meting vindt binnen enkele seconden plaats, waarna er een compleet beeld kan worden gegenereerd van de laagdikte, de optische eigenschappen, ruwheid en inhomogeniteit van uw monster.
De Auto SE is standaard voorzien van een gemotoriseerde XYZ tafel, directe beeldvorming van de te bemeten locatie en gemotoriseerde wisseling tussen verschillende spotgroottes.
De Auto SE garandeert tevens dat u een correcte meting uitvoert, alle belangrijke onderdelen van het systeem zijn voorzien van diagnostiek, die de correcte werking van de apparatuur in de gaten houden.
De Auto SE is een turn-key instrument dat ideaal is voor het routinematig meten aan dunne films.
February 1st 2010
LaserVision - laser safety eyewear
Laser Safety Eyewear
Laser Safety Eyewear consists in most cases of two components: frame and filter.
The legal requirements of the European laser safety standards EN 207/EN208 require that the frame has to withstand the same level of radiation as the filters (stability against laser radiation), that it has to prevent the laser beam from reaching the eyes from the sides (side protection) and that the filters form an inseparable unit with the frame. Therefore the "weaker" part determines the protection level of the whole system for the specified wavelength and operation mode.
May 27th 2009 - September 30th 2009
PHOTORESEARCH : Spectrascan Spectroradiometer
BFi OPTiLAS, thanks to its collaboration with Photoresearch, is proud to announce the launch of the next generation of Spectrascan Spectroradiometers.
The new PR-730/735 offers significant improvements over the industry standard PR-705/715. With twice as many detectors, the cooled-PR-730 offers higher resolution while being more sensitive with virtually no polarization error or stray light.
It comes with USB, Bluetooth wireless interface and RS-232 as well as a high resolution color touch screen display.
Spectral range extends from 380-780 / 380 -1100 nm for the PR-730/735 respectively. Thousands of Spectrascan instruments are currently being used worldwide in digital cinema, post-production, lamp standards metrology, phosphor research, tooth analysis, military displays to name just a few markets. All these markets will benefit from the new capabilities offered by the PR-730/735.
March 14th 2008
BFi OPTiLAS launches innovative Fourier transform spectrometers

BFi OPTiLAS , thanks to its partnership with ARCoptix, a new company based on Neufchatel (Switzerland) offers a range of very innovative compact spectrometers offering unique performance at a very reasonable cost.
* The ARCspectro HT is a very compact patented static polarisation Fourier Transform Spectrometer. It offers very high sensitivity (no grating losses, large input entrance i.e. 3-4 mm with no slit) allowing to work without focussing optics and with low light level such as Diffuse Light, Raman and Fluorescence spectroscopy …
* The ARCspectro NIR is a patented MEMS NIR Fourier Transform Spectrometer. It uses no grating and a single photodiode as the detector. It offers an unmatched spectral range in a single instrument (up to 500 – 2600 nm with no moving parts) with 20 cm-1 resolution.
Applications include: Food, beverage, cosmetics, textile, plastics, material identification, agriculture, gas detection, environment monitoring, security, process control.